扫描电子显微镜SEM 基本参数
放大率:通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到
场深:扫描电子显微镜SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
工作距离:工作距离指从物镜到样品高点的垂直距离。
如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。
如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。
通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间
块状样品的制备块状样品的制备
对于块状导电样品,基本上不需要进行什么制备,只要其大小适合电镜样品底座尺寸大小,即可直接用导电胶带把样品黏结在样品底座上,放到扫描电镜中观察,为防止假象的存在,在放试样前应先将试样用或酒精等进行清洗,必要时用超声波清洗器进行清洗。对于块状的非导电样品或导电性较差的样品,要先进行镀膜处理,否则,样品的表面会在高强度电子束作用下产生电荷堆积,影响入射电子束斑和样品发射的二次电子运动轨迹,使图像质量下降,因此这类样品要在观察前进行喷镀导电层的处理,在材料表面形成一层导电膜,避免样品表面的电荷积累,提高图象质量,并可防止样品的热损伤。
台式扫描电镜观察材料断口台式扫描电镜观察材料断口
台式扫描电镜的另一个重要特点是景深大,图像立体扫描电镜的透射电镜是光学显微镜的10倍由于图像景深较大,获得的扫描电子图像具有三维感强、形状三维等特点,比其他显微镜能提供更多的信息,对用户有很大的价值扫描电镜所表明断裂形态从深层和高景深的角度反映了材料断裂的性质,在教学科研和生产中具有的作用,是材料断裂原因分析、事故原因分析、工艺合理性确定等方面的有力工具。
台式扫描电镜观察大试样的原始表面
台式扫描电子显微镜可以直接观察直径为100毫米、高度为50毫米或更大尺寸的样品,不受样品形状的限制,也可以观察到粗糙的表面,避免了样品制备的麻烦并能真实观察样品本身不同物质成分的对比度。
以上信息由专业从事双束扫描电镜测试价格的九鼎于2022/1/25 13:04:14发布
转载请注明来源:http://tianjin.mf1288.com/jdtjxcl-1904631359.html